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Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪

【简介】Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪是西班牙 Sensofar 非接触式三维光学轮廓仪,集共聚焦、白光干涉、焦点变化及膜厚测量四种技术于一体,测量头无运动部件,一键切换测量模式。设备具备纳米级垂直分辨能力,可检测从超光滑镜面到粗糙曲面的各类样品,支持大倾角表面测量,采集速度最高 180fps。按照 ISO25178、ISO4287 标准计算粗糙度、形貌等参数。

产品型号:S-neox 090
更新时间:2026-10-10
厂商性质:代理商
访问量:39
产品介绍

S neox 3D光学轮廓仪

产品介绍:

Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪将多功能性发展好:采用四合一测量技术(白光干涉、共聚焦、Ai多焦面叠加、薄膜),为不断变化的应用要求提供了与伦比的适应性,并在各种不同的表面上提供测量灵活性。一些算法的创新设计提高了所有技术的速度和能力。

Sensofar致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第五代Sneox 系统的诞生,我们的目标是使其易于使用、直观且更快速。即使是初学者,只需点击一下,即可操作测量。模块化设计的软件,使系统适应用户多样的需求。

Sensofar S-neox三维光学轮廓仪产品特点:

一、四合一技术:

Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪

1.Ai 多焦面叠加

主动照明多焦面叠加是一种为了测量大粗糙表面形状而开发的光学技术。这项技术基于 Sensofar 在共聚焦和干涉 3D 测量领域的广泛专业知识,专门设计用于补充低放大率下的测量。通过使用主动照明,即使在光学平滑的表面上也能获得更可靠的测量数据,这一点已经得到了改进。该技术的亮点包括高斜率表面(高达86°),更快的速度(3mm/s)和较大的垂直范围测量。

2.Sensofar 3D白光干涉轮廓仪共聚焦

共聚焦轮廓仪的开发目的是,测量从光滑表面到非常粗糙表面的表面高度。共聚焦轮廓提供更佳的横向分辨率,可达0.14um 水平分辨率,空间采样可减少到0.01um,这是关键尺寸测量的理想选择。高达NA(0.95)和放大倍率(150X)的物镜可用于测量局部斜率超过 70°的光滑表面。对于粗糙表面,可允许 86°。共聚焦算法提供了纳米尺度上的垂直重复性。

3.干涉

光学干涉是利用参考镜和样本上产生的两束反射光在零光程差时产生干涉的现象来生成三维干涉图样(干涉图),包含样本表面形貌上的信息。该方式的各种变化可用于具体不同的应用。

PSI相移干涉法 可以用于测量亚埃分辨率的高度光滑和连续表面的高度。可以使用极低的放大率(2.5X)测量具有相同高度分辨率的大视场。

CSI相干扫描干涉法使用白光扫描光滑到中等粗糙表面的表面高度,达到1 nm 的高度分辨率。

4.薄膜

薄膜测量技术快速、准确、无损地测量光学透明层的厚度,且不需要样品制备。该系统获取可见光范围内样品的反射光谱,并与软件计算的模拟光谱进行比较,准确地找到匹配的厚度,可以在不到一秒钟的时间内测量出 50nm到1.5um 的透明膜。测量光斑取决于物镜放大率,范围从0.5um到40um。

二、惊人的测量速度:

通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机,达到惊人的测量速度。数据采集速度达180fs。标准测量采集速度比以前快5倍。Sneox成为市场上速度极快的表面测量系统。

Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪

三、可追溯的精确测量

每一台S neox都是为了实现精确且可追溯地测量。我们的设备使用符合IS0 25178中的Part700和Part 600标准的可追溯标准块进行校正。所有的指标,包括高度及水平精度、平面度偏差、系统分辨率等都以测量此类标准块而得到。我们坚持所有的测量设备按照此标准执行。自2007 年以来,Sensofar一直是国际标准化组织(ISO/TC213)技术委员会的成员。

Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪

四、高分辨率

垂直分辨率受到仪器噪声的限制,仪器噪声对于干涉测量是固定的,但共聚焦测量依赖的数值孔径。Sensofar 专有算法以光学仪器更佳的横向分辨率为测量技术提供纳米级系统噪声。所示的形貌是亚纳米(0.3 nm)原子层。由PTB 提供。

Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪

五、DIC观察

微分干涉(DIC)用于强调在正常观察中没有对比度的非常小的高度特征。通过使用 Nomarski棱镜,产生了干涉图像,解决了在明视场或共聚焦图像中不可见的亚纳米级结构。

Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪

六、更快的采集速度

我们的技术( Microdisplay共聚焦技术),搭配全域LED照明光源,以及连续共聚焦的扫描算法(该算法可以允许z轴电机快速移动的同时,连续采集拍照)。相比于传统共聚焦的单个光点照明,SENSOFAR的系统比传统激光共聚焦(LSC`s)采集速度快至少5倍。


七、LED光源的优势

用LED做照明光源要比用激光更有优势。首先LED光源可以避免发生激光光源的散斑现象。其次LED光源的使用寿命约50000小时(约25倍于激光)。最重要的是多个LED就意味着可以根据样品的需求选择最合适的波长来测量。

......

典型应用:

覆盖了包括制造和消费电子等在内的市场,我们的产品旨在解决半导体、微电子、光学 以及表面处理领域的检测要求。

Sensofar S-neox白光干涉轮廓仪



丰富的软件:

1.SensoSCAN

软件通过清晰、直观且用户友好的界面驱动系统.用户将被引导浏览 3D 环境,获得独特的用户体验。

2.自动化程序模块

自动测量模块让客户更容易地实现白定义编程,完成质量管理和检测的目标,手动设定测量点坐标或导入坐标文件,为每个坐标或批量设定量测程序,再设定自动影像识别对位点,最后定义公差范围及报告输出格式就完成了所有的编程工作。

3.扩展测量模块

SensoSCAN 的扩展测量模块让用户可以通过概览图像轻松地在表面上定义测量布局。测量区域可被自动裁剪为需要的矩形、圆形或环形区域。适用于高达5亿像素的大面积测量。提供多种扫描策略,例如对每个视场进行自动聚焦,或聚焦跟踪,以便最小化垂直扫描范围。

4.SensoVIEW的分析软件

3D和2D交互式视图提供多种比例、显示和渲染选项。提供工具套装,适用于对3D 或2D 测量进行初步检查和分析。测量临界尺寸、角度、距离、直径,以及使用新的注释工具突出显示特点。

......

系统规格:

测量原理

共聚焦,PSl,ePSI,CSI,Al多焦面叠加和膜厚

观察模式

明场,DIC,彩色,共聚焦,干涉相位对比

相机

5Mpx:2448x2048像素(可达180 fps)

总放大倍数

60X-21600X(27英寸显示器)

显示分辨率

0.001 nm

视场

0.113到16.8 mm(单视场)

台阶重复性6

0.1%

台阶精度6

0.5%

RMS重复性

0.007nm

一般垂直扫描范围

线性平台:40 mm;5nm分辨率

精细垂直扫描范围

PZT:200μm;0.5nm分辨率

Z测量范围

PSI20μm;CSI10mm;共聚焦&Ai多焦面叠加34mm

X Y 平 台 范 围

手动:40x40mm;电动:114x75mm,154x154mm,255x215mm,302x302mm

水平调节角度范围

±5°

LED光源

红(630 nm);绿(530 nm);蓝(460 nm)和白(575 nm)

拼接张数

10x12(高分辨率);175x175(500 Mpx)

物镜转盘

6孔电动

样品反射率

0.05%到100

样品高度

40mm(标准支架);150 mm和350 mm(选件)

高阶分析软件

SensoMAP,SensoPRO,SensoMATCH,SensoCOMP(选件)

电源

电压100-240VAC;频率50/60Hz

计算机

INTEL处理器;3840x2160分辨率(4K)(27")

操作系统

Microsoft Windows 10,64位

外观尺寸

测量本体:600x610x740 mm(23.6x24x29.1 in);
控制器:209x318x343 mm(8.2x12.5x13.5in)

重量

61Kg(134 lbs)

环境

温度10℃to 35℃;湿度<80%RH;海拔<2000米


注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途。

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电话:

邮箱:576017803@qq.com

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